Découvrez une façon plus simple de caractériser et déboguer vos dispositifs
Séminaire de Tektronix et TestEquity

Joignez TestEquity et Tektronix pour un seminaire gratuit a Montreal & Ottawa

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Montreal 
Mardi, 10 Septembre 2019
Novatel Montreal Aeroport
2599 Boulevard Alfred Nobel
Map

Ottawa
Mercredi, 11 Septembre 2019
cet événement a été reporté.

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Presenteurs

Andrea Clary
Applications Engineer,
Keithley Instruments Product Line
Tektronix 


Blair Battye
Applications Engineer,
Tektronix 

Session 1:  (Veuillez noter, cette presentation est en Englais) 
 Mesure de courant et tension Une façon simple et facile et efficace 

Heures: 9.30am to 11.30am

Presentatrice:  Andrea Clary

Subject de presentation

  • Souvent on utilise les alimentations et les multimètres numériques souvent utilisé pour caractériser les périphériques, l'utilisation d'un seul instrument SMU (Source Measure Unit) pour la caractérisation de l'appareil peut réduire considérablement les temps de test et fournir plus de perspicacité de caractérisation.
  • Regardez notre démonstration en direct et obtenez une vue pratique.
  • Découvrez comment appliquer un système d'acquisition de données pour accélérer votre collecte de résultats de test pour les mesures actuelles et de tension.


Session 2:  (Veuillez noter, cette presentation est en Englais) 
 Accélérer votre conception et débogage :  Comment augmenter l'efficacité et diminuer l'effort

Heures: 1pm to 3pm

Presentateur: Blair Battye

Subject de Presentation

  • La caractérisation des ‘power rails’ reste une application de plus en plus courante. Apprenez des conseils et astuces de notre expert dans la sélection de la sonde appropriée pour simplifier cette tâche
  • De nombreux clients de Tektronix partagent ce défi commun : être capable de mesurer une amplitude plus faible avec un minimum de bruit. Découvrez l'importance d'avoir une résolution 12 bits lors de notre démonstration en direct
  • L'utilisation de la fonction mathématique FFT dans un oscilloscope est souvent difficile à mettre en place et peut conduire à des résultats trompeurs dans le domaine de la fréquence. Découvrez des moyens récemment introduits pour simplifier cette tâche.
  • Apprenez des méthodes pour faire des mesures de ‘jitter’ à travers de nombreux types de ‘jitter’  (RD, DJ, jitter total, etc...) et pourquoi ceci est critique et comment résoudre le problème.

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